現代寬禁帶功率器件 (SiC, GaN) 上的開關晶體管速度越來越快，使得測量和表征成為相當大的挑戰。汽車功率模塊測試標準AQG 324特別突出了功率循環試驗，在整個SiC-MOSFET壽命試驗相關內容中，功率循環試驗不僅被列為首項， 且占據的篇幅超過其他所有試驗項目之和。金凱博KC-3130高精度大電流PCT測試系統是多功能功率半導體器件熱學特性測試設備。主要用于 Si/SiC/GaN 材料的 IGBT/DIODE/MOSFET /BJT/SCR 等器件的秒級功率循環（PCsec）、分鐘級功率循環（PCmin）、熱阻（抗）測試（Rth/Zth）和 K 曲線測試（TSP-Vpn）。整體架構模塊化，通訊協議、通訊接口等采用統一標準，便于后期擴展和維護。 在保證系統穩定運行的同時，可快速滿足功率半導體可靠性測試需求。
參考標準 JEDEC、MIL-STD-750E、GJB128A、AEC-Q101、IEC60747- 2/6 ch. IV、IEC60747-9、JESD51-14
特點
金凱博KC-3130高精度大電流功率循環PCT測試系統&熱特性智能檢測系統包含：
硬件平臺+實時軟件
其中硬件平臺包含 ：FTG 大電流電源、水冷（油冷）夾具平臺、FTL恒流源、測量采集控制模塊等。
主要特點如下:
分鐘級/秒級功率循環：通過配套水循環控制，本系統可兼容分鐘級 和秒級（最低0.5S）的Power Cycling試驗
可配置包括功率循環試驗設備&K系數測試儀，相互獨立的雙系統，同時測試，互不影響；
單平臺配置2000A恒流源，并聯使用電源時，單平臺最大可達6000A；
可測試IGBT/MOSFET/Diode等器件；
使用瞬態雙界面測試法獲取不同時刻下的瞬態熱阻抗曲線，通過算法 得到連續時間頻譜函數R(Z)和結構函數，得出熱阻值；
互補輸出：提高測試樣品數量；柵極漏電流監測：失效預測
軟件界面
金凱博KC-3130高精度大電流功率循環PCT測試系統&熱特性智能檢測系統軟件功能完備并高可擴展性，基于LINUX平臺開發，穩定高效、配備工控機。保存與記錄試驗數據，漏電流、溫度、故障信號、工作時長、漏源電壓變化率等。
金凱博KC-3130高精度大電流功率循環PCT測試系統&熱特性智能檢測系統數據管理功能完整，具有操作界面與上位機，可實現數據自動保存與生成測試報告。
產品性能
測試精度
恒溫系統溫控精度:±0.5℃;
恒溫板 A/B:溫控精度為±0.5℃，分辨率01℃，溫控范圍:10-60C;
恒溫板C:溫控精度為士0.5℃，分辨率0.1℃，溫控范圍:-35-200C;
導通壓降測量精度:土150uV;
結溫測試精度:±2℃;
冷板及殼溫測試精度:≤2℃;
柵極電流檢測:范圍0.1nA-10000nA;分辨率15pA;
測試容量與其他
PCsec/PCmin最多可測試8只樣品
Zth/Rth/Kcurve每次只能測試1只樣品
設備配有 3D 自由夾具，方便常見封裝形式的安裝固定
支持恒電流模式、恒結溫模式、恒功率模式
支持SECS/GEM協議遠程監控試驗
超大功率水冷箱一臺
